内存测试卡使用说明

(资料图片仅供参考)

本测试卡是居于PCI接口的内存测试卡,通过搭配专用主板,可以测试SDR,

DDR内存.内存频率包括66MHZ,100MHZ,133MHZ.本卡功能包括内存条IC

好坏测试,内存条短路测试,IC内部好坏测试,内存条兼容性稳定性测试.测

试速度快,能精确指出内存条上坏IC所在的位置.是内存生产,维修的好帮手.

一:系统主要组成部分及用法

二:系统测试环境

三:问题和解答

一:本系统主要组成部分为: 3个7段数码管(U4-U6),1个5X8显示阵列(U2),2

个开关(S1,S2)

1:7段数码管用来显示内存M数:

在内存测试过程中,每测完1M,数码管就会显示相对应的M数,测试完后,数码管会

显示出总容量的M数.比如:当你测试双面32M内存时,开始数码管显示000,表明正在

测试0到1M的地址范围.测完1M后,数码管显示001,表示正在测试1M到2M的范围.

测试完后,数码管显示032.

2:开关用来选择测试模式:

本系统提供了四种测试模式:S1,S2 = 00 , 01 , 10 , 11

a):S1,S2=00

此模式也叫快速测试.通过对内存跳跃式测试来判断内存好坏,主要针对IC内部

大部分损坏,金手指接触不良,或者IC假焊,连焊等由于加工造成的内存条损坏.对

于133M外频的内存条,每测试128M约需要5秒钟.

b):S1,S2=01

此模式也叫全面测试.通过对内存中每一单元进行多次读写来判断内存好坏,主要

针对IC内部局部损坏进行测试.对于133M外频的内存条,每测试1M约需要1秒

钟.

本文到此讲解完毕了，希望对大家有帮助。